• Book cover of: Applied Measurement with jMetrik. By: J. Patrick Meyer

Applied Measurement with jMetrik

J. Patrick Meyer

€233,73
€233,73 €234,99 Myynti

Meillä on varastossa

Prekės šiuo metu neturime
Palikite el. paštą ir pranešime iškart, kai prekė vėl atsiras sandėlyje.
Viršelis
Kietas viršelis · Šis leidimas €233,73Pristatymas 3-4 sav.
Applied Measurement with jMetrik Minkštas viršelis €74,17Pristatymas 3-4 sav.
Autorius J. Patrick Meyer
Kalba Anglų k.
Leidimo metai 2014 m.
Puslapių skč. 170 psl.
Viršelis Kietas viršelis
ISBN 9780415531955

Applied Measurement with jMetrik

Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.

Book cover of: Applied Measurement with jMetrik. By: J. Patrick Meyer

Applied Measurement with jMetrik

€233,73
€233,73 €234,99