Applied Measurement with jMetrik
€74,17
Tilapäisesti loppuunmyytyJätä sähköpostiosoitteesi, niin ilmoitamme sinulle heti, kun kirjaa on taas saatavilla, yleensä 3-4 viikon kuluessa.
14 päivän palautustakuuMuutitko mielesi? Voit peruuttaa tilauksesi milloin tahansa tai palauttaa sen 14 päivän kuluessa. Palautusehdot
Tietoa kirjasta
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
| Kirjoittaja | J. Patrick Meyer |
|---|---|
| Kustantaja | Taylor & Francis Ltd |
| Julkaistu | 2014 m. |
| Kieli | Englanti |
| Sivumäärä | 170 psl. |
| Sidosasu | Pehmeäkantinen |
| Genre | Psichologija |
| ISBN | 9780415531979 |
