Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches
€213,47€228,69-6%
Tilapäisesti loppuunmyytyJätä sähköpostiosoitteesi, niin ilmoitamme sinulle heti, kun kirjaa on taas saatavilla, yleensä 3-4 viikon kuluessa.
14 päivän palautustakuuMuutitko mielesi? Voit peruuttaa tilauksesi milloin tahansa tai palauttaa sen 14 päivän kuluessa. Palautusehdot
Tietoa kirjasta
Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches by Muthukumaran Malarvel, Soumya Ranjan Nayak, Prasant Kumar Pattnaik, Surya Narayan Panda.
Published by Wiley & Sons, Limited, John, (2021), Hardback, 352 pages.
| Kirjoittaja | Muthukumaran Malarvel |
|---|---|
| Kustantaja | John Wiley & Sons Inc |
| Julkaistu | 2021 m. |
| Kieli | Englanti |
| Sivumäärä | 352 psl. |
| Sidosasu | Kovakantinen |
| Painos | Volume 2 |
| ISBN | 9781119786092 |
