Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches

Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches

Kovakantinen2021 m.352 s. Toimitus 3-4 viikossa
€213,47€228,69-6%
Tilapäisesti loppuunmyytyJätä sähköpostiosoitteesi, niin ilmoitamme sinulle heti, kun kirjaa on taas saatavilla, yleensä 3-4 viikon kuluessa.
14 päivän palautustakuuMuutitko mielesi? Voit peruuttaa tilauksesi milloin tahansa tai palauttaa sen 14 päivän kuluessa. Palautusehdot

Tietoa kirjasta

Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches by Muthukumaran Malarvel, Soumya Ranjan Nayak, Prasant Kumar Pattnaik, Surya Narayan Panda.

Published by Wiley & Sons, Limited, John, (2021), Hardback, 352 pages.

KirjoittajaMuthukumaran Malarvel
KustantajaJohn Wiley & Sons Inc
Julkaistu2021 m.
KieliEnglanti
Sivumäärä352 psl.
SidosasuKovakantinen
PainosVolume 2
ISBN9781119786092

Äskettäin katsotut