• Book cover of: Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations. By: Ronald G. Reifenberger

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Ronald G. Reifenberger

€116,19
€116,19 €120,25 Myynti

Meillä on varastossa

Prekės šiuo metu neturime
Palikite el. paštą ir pranešime iškart, kai prekė vėl atsiras sandėlyje.
Kalba Anglų k.
Leidimo metai 2015 m.
Puslapių skč. 340 psl.
Viršelis Kietas viršelis
ISBN 9789814630344

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.

Book cover of: Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations. By: Ronald G. Reifenberger

Fundamentals Of Atomic Force Microsco...

€116,19
€116,19 €120,25