Electron Microscopy and Analysis
€260,80€262,50-0%
Toimitus alkaen 2,19 €, ilmainen yli 23 €
Sidosasu
Kietas viršelis€260,80Toimitus 3-4 viikossa
Minkštas viršelis€110,73Toimitus 3-4 viikossaTilapäisesti loppuunmyytyJätä sähköpostiosoitteesi, niin ilmoitamme sinulle heti, kun kirjaa on taas saatavilla, yleensä 3-4 viikon kuluessa.
14 päivän palautustakuuMuutitko mielesi? Voit peruuttaa tilauksesi milloin tahansa ennen sen lähettämistä. Palautusehdot
Kirjan tiedot
| Kirjoittaja | Peter J. Goodhew |
|---|---|
| Kustantaja | Taylor & Francis Ltd |
| Julkaistu | 2017 m. |
| Kieli | Anglų k. |
| Sivumäärä | 264 psl. |
| Sidosasu | Kovakantinen |
| Painos | 3 ed |
| ISBN | 9781138441538 |
Tietoa kirjasta
A guide to scanning and transmission microscopes and to the analytical techniques based on them. It covers the techniques of electron energy loss spectroscopy and energy dispersive X-ray analysis. It compares electron microscopic techniques to many of the competing physical investigative techniques available.