• Book cover of: Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults. By: Ireneusz Mrozek

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

Ireneusz Mrozek

€52,89
€52,89 €56,24 Myynti

Meillä on varastossa

Prekės šiuo metu neturime
Palikite el. paštą ir pranešime iškart, kai prekė vėl atsiras sandėlyje.
Viršelis
Kietas viršelis · Šis leidimas €52,89Pristatymas 3-4 sav.
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Minkštas viršelis €52,89Pristatymas 3-4 sav.
Autorius Ireneusz Mrozek
Kalba Anglų k.
Leidimo metai 2018 m.
Puslapių skč. 135 psl.
Viršelis Kietas viršelis
ISBN 9783319912035
Leidimas 1st ed. 2019

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

Book cover of: Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults. By: Ireneusz Mrozek

Multi-run Memory Tests for Pattern Se...

€52,89
€52,89 €56,24