Atomic Force Microscopy (AFM)
€237,43€245,24-3%
Tilapäisesti loppuunmyytyJätä sähköpostiosoitteesi, niin ilmoitamme sinulle heti, kun kirjaa on taas saatavilla, yleensä 3-4 viikon kuluessa.
14 päivän palautustakuuMuutitko mielesi? Voit peruuttaa tilauksesi milloin tahansa tai palauttaa sen 14 päivän kuluessa. Palautusehdot
Tietoa kirjasta
Atomic Force Microscopy (AFM) by Hongshun, Ph.D. Yang.
Published by Nova Science Pub Inc, (2014), Hardback, 351 pages.
Topics: Scanning tunneling microscopy, Scanning probe microscopy, Scanning force microscopy, Atomic force microscopes.
| Kirjoittaja | Hongshun Yang |
|---|---|
| Kustantaja | Nova Science Publishers Inc |
| Julkaistu | 2014 m. |
| Kieli | Englanti |
| Sivumäärä | 351 psl. |
| Sidosasu | Kovakantinen |
| ISBN | 9781631171727 |